Escala de alturas con espiga soporte para posicionar verticalmente por medio de un pie cónico.
Base con orificio central y indices para las escalas disponible por separado.
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Tornillo micrométrico con punta fina para medir franjas de difracción e interferencia. Soporte adaptado para el jinetillo óptico K (U8475350).
Dimensiones: aprox. 80x30x60 mm³
Masa: aprox. 120 g
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Micrómetro para exteriores, de precisión, con corona de ajuste fino y dispositivo de fijación. Superficies de medición de metal duro, esmerilado y finamente bruñido. Huso de medición templado, con ...
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Calibre de precisión para mediciones internas, externas y de profundidad. Acero fino, templado, superficies de medición del más fino pulido, piezas de lectura cromadas en mate, en estuche de cuero sintético.
Rango ...
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Pie de rey para mediciones internas, externas y de profundidad. Acero inoxidable, templado, display de LCD. Con tornillo de sujeción, posibilidad de variación de centímetros a pulgadas, ajuste de cero, posible en todas ...
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Equipo profesional de telemetría por láser con pantalla LCD de varias líneas e iluminación de trasfondo, diseñado especialmente para obtener resultados de elevada precisión en lugares lejanos y de dif ...
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Esferómetro para medición de espesor de placas, concavidades y radios de curvatura de superficies esféricas como, por ejemplo, lentes.
El equipo posee un trípode con tres patas de acero, las cuales forman entre sí un triángulo equilátero. ...
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Para demostración de la lectura en nonios en equipos de medición de longitudes y angulares.
Longitud: 600 mm
Longitud del nonio: 260 mm
Altura: 190 mm
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Modelo de un pie de rey. Apropiado para la medición de anchuras externas e internas, así como profundidades hasta de 300 mm.
Dimensiones: 420×195 mm²
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