Objetivo: Demonstração do índice de refração do vidro
O interferômetro de Michelson pode ser empregado na medição interferométrica, em especial de índices de refração, pois reage de forma sensível a alterações do comprimento do percurso ótico de um feixe parcial. Se o percurso geométrico for mantido constante, os índices de refração ou suas alterações podem ser determinadas pelas alterações de pressão, temperatura ou densidade. Por uma modificação reduzida, o interferômetro de Michelson é transformado em um interferômetro de Twyman-Green, com o qual pode ser determinada a qualidade da superfície de componentes óticos. Na experiência, é determinado o índice de refração do vidro a partir da diferença de passo de uma chapa de vidro movimentada em um ângulo em dependência do ângulo. A diferença de passo é determinada, nisto, pela contagem dos anéis emergentes ou decadentes. Além disso, é avaliada a qualidade da superfície de uma fita adesiva por meio de distúrbios nos anéis de interferência, que podem ser atribuídos à superfície irregular da fita adesiva.
![Experiência: Interferômetro de Michelson II, 8000787 [UE4030411], Óptica ondulatória](/imagelibrary/UE4030411/UE4030411_01_Experiencia-Interferometro-de-Michelson-II.jpg)
![Interferômetro, 1002651 [U10350], Interferômetro](/thumblibrary/U10350/U10350_01_140_140_Interferometro.jpg)
![Conjunto de aparelhos complementares para o interferômetro, 1002652 [U10351], Interferômetro](/thumblibrary/U10351/U10351_01_140_140_Conjunto-de-aparelhos-complementares-para-o-interferometro.jpg)
![Constante de Planck, aparelho (230 V, 50/60 Hz), 1000537 [U10700-230], Fundamentos da física atômica](/thumblibrary/U10700-230/U10700-230_01_140_140_Constante-de-Planck-aparelho-230-V-5060-Hz.jpg)
![Cabos de segurança para experiências, 75 cm, conjunto de 15, 1002843 [U138021], Circuito elétrico](/thumblibrary/U138021/U138021_01_140_140_Cabos-de-seguranca-para-experiencias-75-cm-conjunto-de-15.jpg)
![Suporte para tubos S -
para a configuração experimental de tubos da série S, 1014525 [U185002], Tubos eleletrônicos S](/thumblibrary/U185002/U185002_01_140_140_Suporte-para-tubos-S-para-a-configuracao-experimental-de-tubos-da-serie-S.jpg)
![Par de bobinas de Helmholtz S, 1000611 [U185051], Tubo de elétrons S](/thumblibrary/U185051/U185051_01_140_140_Par-de-bobinas-de-Helmholtz-S.jpg)
![Diodo S, 1000613 [U185501], Tubo de elétrons S](/thumblibrary/U185501/U185501_01_140_140_Diodo-S.jpg)
![Tubo de Thomson S, 1000617 [U18555], Tubo de elétrons S](/thumblibrary/U18555/U18555_01_140_140_Tubo-de-Thomson-S.jpg)
![Tubo para difração de elétrons S, 1013889 [U185711], Tubo de elétrons S](/thumblibrary/U185711/U185711_01_140_140_Tubo-para-difracao-de-eletrons-S.jpg)
![Laser de He-Ne, 1003165 [U21840], Física laser para corpos sólidos](/thumblibrary/U21840/U21840_01_140_140_Laser-de-He-Ne.jpg)
![Fonte de alimentação DC 0 – 500 V (230 V, 50/60 Hz), 1003308 [U33000-230], Aparelhos de rede](/thumblibrary/U33000-230/U33000-230_01_140_140_Fonte-de-alimentacao-DC-0-500-V-230-V-5060-Hz.jpg)
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